在找半導體集成電路CMOS電路檢測機構?百檢網為您提供半導體集成電路CMOS電路檢測服務,專業工程師對接確認項目、標準后制定方案,包括半導體集成電路CMOS電路檢測周期、報價、樣品等,確認無誤后安排寄樣檢測,半導體集成電路CMOS電路檢測常規周期3-15個工作日,歡迎咨詢。
檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等
報告資質:CNAS/CMA/CAL
報告周期:常規3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。
檢測費用:根據檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網。
半導體集成電路CMOS電路檢測項目:
輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,輸出低電平電壓VOL,輸出高電平電壓VOH,輸出高阻態電流IOZ,靜態條件下的電源電流,電源電流IDD,輸入低電平電壓VIL,輸入高電平電壓VIH,輸出低電平電流IOL,輸出低阻態時低電平電流IOZL,輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間tPLH,輸出由高電平到低電平傳輸延遲時間tPHL,輸出高電平電流IOH,輸出高阻態時高電平電流IOZH,輸出高阻態時低電平電流IOZL,輸入出低電平電壓VIL,輸入鉗位電壓VIK,輸出短路電流IOS,密封,恒定加速度,溫度循環,電源電流,穩定性烘焙,粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗,輸入低電平電壓,輸入低電平電流,輸入高電平電壓,輸入高電平電流,輸出低電平電壓,輸出低電平電流,輸出高電平電壓,輸出高電平電流,輸出高阻態時低電平電流,輸出高阻態時高電平電流,輸出漏電流,電源電流 IDD,輸入低電平電壓 VIL,輸入低電平電流 IIL,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電壓 VIH,輸入高電平電流 IIH,輸出低電平電壓 VOL,輸出低電平電流 IOL,輸出短路電流 IOS,輸出高電平電壓 VOH,輸出高電平電流 IOH,輸出高阻態時低電平電流 IOZL,輸出高阻態時高電平電流 IOZH,傳輸時間,建立時間,滯后電壓,輸入正向閾值電壓,輸入負向閾值電壓,輸出高阻態時電流,電源電流 IDD,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電壓 VIH,輸出低電平電壓 VOL,輸出低電平電流 IOL,輸出高阻態電流,輸入鉗位電壓V,輸出低電平電流I,輸出高電平電流I,輸入低電平電流I,輸入高電平電壓V,輸入出低電平電壓V,輸出短路電流I,輸入高電平電流I,輸出高電平電壓 VOH,輸出低電平電壓 VOL,輸入高電平電流 IIH,輸入低電平電流 IIL,輸出高電平電流 IOH,輸出低電平電流 IOL,輸出高阻態時高電平電流 IOZH,輸出高阻態時低電平電流 IOZL,電源電流 IDD
百檢檢測流程:
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結果反饋;
5、出具報告、售后服務;
6、如需加急、優先處理;
半導體集成電路CMOS電路檢測標準:
1、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
2、GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 GB/T 17574-1998
3、GB/T17574-1998方 半導體器件集成電路 第2部分:數字集成電路第IV篇 方法38
4、GB /T 17574-1998 《半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路》 第IV篇第3節第4.1條
5、IV 半導體器件集成電路 第2部分:數字集成電路第篇 GB/T17574-1998方
6、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法1010.1
7、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法 1014.2
8、GB/T 17574-1998 《半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路》 第Ⅳ篇 第2節 4
9、SJ/T10741-2000 半導體集成電路 CMOS電路測試方法的基本原理 5.15
10、GB/T 17574-1998 半導體器件集成電路 第2部分:數字集成電路第IV篇 GB/T17574-1998
11、GB /T 17574-1998 《半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路》 GB /T 17574-1998
12、SJ/T10741-2000/ 半導體器件集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 5.15
13、GB/T17574-1998 半導體器件集成電路 第2部分:數字集成電路第IV篇 方法37
14、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 5.3
15、GB/T17574-1998 半導體集成電路第2部分:數字集成電路 IV.2.4
一份檢測報告有什么用?
產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求,能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學??蒲刑峁┛陀^的參考。
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