咨詢晶硅材料檢測服務(wù)，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排晶硅材料檢測工程師對接，溝通晶硅材料檢測項目、標準、周期等，待方案確認后，即可開始樣品檢測，出具晶硅材料檢測報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據(jù)檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

晶硅材料檢測項目：

彎曲度,徑向電阻率變化,晶向偏離度,晶向,電阻及電阻率,直徑及直徑偏差,粒度,翹曲度,邊緣輪廓,切口尺寸,厚度和總厚度變化,參考面長度,外觀檢驗,導(dǎo)電類型,少數(shù)載流子壽命,局部平整度,工業(yè)硅雜質(zhì)元素硼含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素磷含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素釩含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鈦含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鈉含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鈷含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鉀含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鉛含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素銅含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鉻含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鋅含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素錳含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鎂含量,工業(yè)硅雜質(zhì)元素鎳含量,工業(yè)硅鈣含量,工業(yè)硅鐵含量,工業(yè)硅鋁含量,平整度,硅單晶,硅單晶切割片,硅片參考面晶向,多晶硅塊,工業(yè)硅元素含量,碳含量,硅切割片和研磨片,氧含量,多晶硅片

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

晶硅材料檢測標準：

1、GB/T 13388-2009 硅片參考面晶向

2、GB/T 14849.3-2020 工業(yè)硅化學分析方法 第3部分：鈣含量的測定 GB/T 14849.3-2020

3、GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測定方法

4、GB/T1550-2018 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測試方法

5、GB/T6620-2009 硅片翹曲度非接觸式測試方法

6、GB/T1555-2009 半導(dǎo)體單晶晶向測定方法

7、GB/T 26067-2010 切口尺寸

8、GB/T 14140-2009 硅片直徑測量方法

9、GB/T6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法

10、GB/T 26071-2010 硅單晶切割片

11、GB/T 29507-2013 平整度

12、GB/T 1557-2018 硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法 GB/T 1557-2018

13、GB/T1553-2009, GB/T 26068-2018 硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測定光電導(dǎo)衰減法 GB/T1553-2009硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測試 非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法 GB/T 26068-2018

14、GB/T19922-2005 硅片局部平整度非接觸式標準測試方法

15、GB/T 13387-2009 參考面長度

16、GB/T6621-2009 GB/T29507-2013 硅片表面平整度測試方法硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法

17、GB/T 6618-2009 厚度和總厚度變化

18、GB/T 1558-2009 碳含量

19、GB/T14849.3-2007 工業(yè)硅化學分析方法 第3部分：鈣含量的測定

20、GB/T29054-2012 太陽能級鑄造多晶硅塊

一份檢測報告有什么用?

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構(gòu)檢測服務(wù)包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項領(lǐng)域檢測服務(wù)，歡迎咨詢。