在找場效應晶體管檢測機構？百檢網為您提供場效應晶體管檢測服務，專業工程師對接確認項目、標準后制定方案，包括場效應晶體管檢測周期、報價、樣品等，確認無誤后安排寄樣檢測，場效應晶體管檢測常規周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等

報告資質：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網。

場效應晶體管檢測項目：

柵-源閾值電壓VGS(TO),柵極截止電流和柵極泄露電流,漏極截止電流,柵-源閾值電壓,柵極截止電流,漏極電流,高溫反偏,柵極漏泄電流,正向跨導,漏一源擊穿電壓,靜態漏-源通態電阻,反向傳輸電容Crss,開關時間,柵-源閾值電壓VGS(th),柵極截止電流IGSS,源-漏二極管正向壓降VSD,漏-源擊穿電壓V(BR)DSS,漏極截止電流IDSS,短路正向跨導gfs,管殼熱阻（瞬態Z（th）J-C和穩態R（th）J-C）,輸入電容Ciss,輸出電容Coss,靜態漏-源通態電阻RDS(on),漏-源（直流）電壓,柵-源（直流）電壓,柵-漏（直流）電壓,漏極（直流）電流,漏極峰值電流,漏極反向（直流）電流,漏極反向峰值電流,反偏安全工作區,短路安全工作區,重復雪崩能量,非重復雪崩能量,擊穿電壓,漏極漏電流,柵極漏電流,漏-源通態電阻,漏-源通態壓降,開通能量,關斷能量,柵極電荷,輸入電容,輸出電容,反向傳輸電容,柵極內阻,反向恢復時間,反向恢復電荷,漏-源反向電壓,結-殼瞬態熱阻抗和熱阻,高溫阻斷（HTRB）,高溫柵極偏置,間歇工作壽命（負載循環）,柵-源截止電壓,柵極截止電流或柵極漏泄電流,漏-源通態電壓,柵-源短路時，漏極電流,漏-源擊穿電壓,漏-源短路時，柵極電流,柵-源閾值電壓VGS(th),柵極截止電流和柵極泄漏電流IGSS,漏極截止電流IDSS,柵-源截止電壓VGSoff,柵-源閾值電壓VGS（th）,柵源極截止（漏泄）電流IGSS,正向跨導gfs,漏源擊穿電壓V（BR）DSS,漏源極截止電流IDSS,靜態漏-源通態電阻rDS,噪聲電壓噪聲系數,時間參數,熱阻參數,電壓參數,電容參數,電導參數,電流參數,電阻參數,柵源漏電流,柵源閾值電壓,漏源擊穿電壓,漏源通態電阻,跨導,零柵壓漏極電流,靜態漏源通態電壓,靜態漏源通態電阻,小信號短路正向跨導,柵極截止電流或柵極漏泄電流IGSS,柵極閾值電壓VGS(th),漏-源擊穿電壓V(BR)DSS,漏極截止電流IDSS,漏極電流ID,通態漏-源電阻rds（on）,柵-源閾值電壓VGS（th）,柵源擊穿電壓V（BR）GSS,漏源擊穿電壓V（BR）DSS,柵極泄漏電流,靜態漏—源通態電阻,柵-源截止電壓(VGSoff）,柵-源閾值電壓(VGSth),漏-源通態電壓(VDSon),靜態漏-源通態電阻(rDSon),反向柵源漏電流,正向柵源漏電流,漏源通態電壓,柵源短路時柵極漏電流,漏-源短路漏極電流,柵-源閾值電壓VGS（TO）,柵極截止電流或柵極泄露電流,柵極閾值電壓VGS（th）,柵源短路時柵極漏電流IGSS,正向跨導ggs（Vgs）,漏-源擊穿電壓BVDSS,漏-源短路漏極電流IDSS,漏極電流ID,漏極電流Id（on）,通態漏-源電阻rDS（on）,靜態漏-源通態電阻RDS（on）,外部目驗,密封,尺寸,快速溫度變化,恒定加速度,柵源截止電壓,柵源閾電壓,濕熱循環,漏泄或截止電流,漏源電壓,穩態濕熱,高溫貯存,(結柵型, 絕緣柵耗盡型):G-S關斷電壓VGS(off)； (絕緣柵增強型):G-S閾值電壓VGS(th),(結柵型, 絕緣柵耗盡型,絕緣柵增強型):崩潰電壓V(BR)DSS,(絕緣柵增強型IDSS)或(結柵型,絕緣柵耗盡型):漏極關斷電流IDSX,靜態D-S導通阻抗RDS(on)或者D-S導通電壓VDS(on),IDSX:漏極關斷電流/IDS*:漏極漏電流

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優先處理;

場效應晶體管檢測標準：

1、GB/T 6219-1998 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第一篇 1GHz、5W以下的單柵場效應晶體管 空白詳細規范 8 表1 A1

2、GB/T4586-1994 半導體器件第8部分 場效應晶體管 Ⅳ.6

3、GB/T4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第Ⅳ章2

4、GB/T 4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第Ⅳ章6

5、GB/T 4586-94(IEC 60747-8:1984) 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第Ⅲ章3.1.11

6、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3407

7、GB/T 6571-1995 半導體器件分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 第Ⅳ章第1節2

8、GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分 分立器件和集成電路總規范 4

9、IEC 60747-8 Ed. 3.0 b:2010 半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 6.3.5

10、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 第IV章 2

11、IEC 60747-8-2010 半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 6.3.3

12、IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 半導體器件.分立器件.第8部分:場效應晶體管 6.3.2

13、GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法 1039/2.1.1

14、IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 半導體器件-分立器件-第8部分: 場效應晶體管 6.2.1.1

一份檢測報告有什么用?

產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構檢測服務包括食品、環境、醫療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農產品等多項領域檢測服務，歡迎咨詢。