在找混合集成電路檢測機構(gòu)？百檢網(wǎng)為您提供混合集成電路檢測服務，專業(yè)工程師對接確認項目、標準后制定方案，包括混合集成電路檢測周期、報價、樣品等，確認無誤后安排寄樣檢測，混合集成電路檢測常規(guī)周期3-15個工作日，歡迎咨詢。

檢測樣品：紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì)：CNAS/CMA/CAL

報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用：根據(jù)檢測項目收費，詳情請咨詢百檢網(wǎng)。

混合集成電路檢測項目：

外形尺寸,密封 粗檢漏,密封 細檢漏,恒定加速度,溫度循環(huán),穩(wěn)定性烘焙,穩(wěn)態(tài)壽命,粒子碰撞噪聲檢測,老煉,芯片剪切強度,鍵合強度,1dB壓縮輸出功率,功率增益,噪聲系數(shù),插入損失,調(diào)制度,輸出功率,金屬外殼絕緣電阻,隔離度,頻率穩(wěn)定度,頻率范圍,密封前老練,非破壞性鍵合拉力,內(nèi)部目檢,機械沖擊,PIND,X射線照相,外部目檢,耐溶劑性,可焊性,ESDS,內(nèi)部水汽含量,元件剪切強度,引線牢固性,耐濕,鹽霧,金屬外殼絕緣,耐焊接熱,隨機振動,引線鍵合強度,交叉調(diào)整率,密封,效率,電壓調(diào)整率,電流調(diào)整率,粒子碰撞噪聲檢測試驗,絕緣電阻,老煉試驗,輸入電流,輸出電壓,輸出電壓溫度系數(shù),輸出電流,輸出紋波電壓,X射線檢查,剪切強度,掃描電子顯微鏡（SEM）檢查,粒子碰撞噪聲檢測（PIND）,工作狀態(tài)電源電流,待機狀態(tài)時電源電流,電壓駐波比,諧波抑制度,雜波抑制度,功率增益平坦度,動態(tài)條件下的總電源電流,靜態(tài)條件下的電源電流,電源電流,密封前老煉,溫度循環(huán)或熱沖擊,機械沖擊或恒定加速度

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

混合集成電路檢測標準：

1、GB/T 17574-1998 《半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 GB/T 17574-1998

2、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 1102/2.3

3、GJB 2650-1996 微波元器件性能測試方法 方法2006

4、SJ20646-1997/ 混合集成電路DC/DC變換器測試方法 5.6

5、GJB 2438B-2017 混合集成電路通用規(guī)范 GJB 2438B-2017

6、SJ20646-1997 混合集成電路DC/DC變換器測試方法 方法5.4

7、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005

8、GJB2438B-2017，表C.14 混合集成電路通用規(guī)范

9、GJB 2438A-2002 混合集成電路通用規(guī)范 表C.6

10、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法：1014.2

11、GJB 2438A-2002 混合集成電路通用規(guī)范 GJB 2438A-2002

12、GJB2438B-2017，表C.12 混合集成電路通用規(guī)范

13、GJB2438B-2017， 混合集成電路通用規(guī)范

14、DC/DC 混合集成電路變換器測試方法　 SJ20646-1997/

15、GB/T 17574-1998 《半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 第Ⅳ篇第3節(jié)1

16、GJB 2438B-2017 混合集成電路通用規(guī)范 表C.9

17、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法 5.11

18、GJB 2650-1996 微波元器件性能測試方法 GJB 2650-1996

19、GJB2438B-2017，表C.9 混合集成電路通用規(guī)范

20、SJ 20646-1997 《混合集成電路DC/DC變換器測試方法》 SJ 20646-1997

一份檢測報告有什么用?

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。

百檢第三方機構(gòu)檢測服務包括食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項領(lǐng)域檢測服務，歡迎咨詢。